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? IC測試應(yīng)該選什么樣的探針呢？華榮華雙頭探針廠家
文章出處：行業(yè)資訊 責(zé)任編輯：深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量：- 發(fā)表時間：2021-05-10 13:49:00
如何測試一顆IC的性能最簡單最方便的方法就是套用使用該IC的電路板來做成測試夾具，這樣就可以高效的測試IC的性能。
有很多人回收物料之后留下成千上萬個IC拆機(jī)芯片，但是卻沒辦法去確認(rèn)IC的好壞，其實簡單點的就是找到IC的載體（主板），把主板提供給專業(yè)生產(chǎn)測試座的廠家來做成測試夾具，通過測試治具來作為一個連接媒介，無需重復(fù)焊接，損傷芯片就可以達(dá)到檢測芯片功能好壞的目的。
怎么測出IC性能哪個好呢？這就要用到華榮華的BGA雙頭探針了，雙頭探針更是廣泛應(yīng)用于DDR、EMMC芯片的檢測中。
常用的雙頭探針規(guī)格有0.26mm、0.28mm、0.31mm、0.35mm、0.38mm、0.48mm、0.51mm、0.58mm、0.78mm、0.83mm、如有特殊定制的尺寸，找華榮華，廠家直銷，交期短哦
1. 耐用。由于插拔時觸點會磨損，磨損會降低連接器的機(jī)械和電氣性能。在設(shè)置環(huán)境中，插拔連接器是一個循環(huán)。一個彈簧針可以承受多少次循環(huán)來評估連接器的耐用性 2、在接觸系統(tǒng)的正常使用中，接觸點在垂直于接觸表面的壓力下。 3. 溫濕度循環(huán)。評估該環(huán)境對接觸系統(tǒng)電氣穩(wěn)定性的影響，當(dāng)接觸系統(tǒng)暴露在產(chǎn)生高溫/高濕并降低其機(jī)械性能的環(huán)境中時。這些影響包括接觸表面的水分加速氧化和微表面氧化。接觸表面之間的顆粒和金屬氧化物會降低連接器的電氣性能?！ ?.溫度壽命。當(dāng)暴露在機(jī)械性能因溫度變化而降低的高溫環(huán)境中時，評估該環(huán)境對電氣穩(wěn)定性的影響。高溫會導(dǎo)致觸點氧化并降低端子的法向力，從而降低電氣性能?！ ?. 振動。評估由于機(jī)械力引起的接觸表面微小變化對接觸系統(tǒng)電氣特性尺寸的影響 6. 熱沖擊。當(dāng)連接器暴露在極高和極低的溫度
2022-03-02
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